In der Kupfergalvanik ist es technisch, wie auch ökonomisch entscheidend, welche Schichtdicke auf dem jeweiligen Ballen aufgetragen wird. Das Thickness-Star FE von Daetwyler Graphics ist ein handliches und robustes Schichtdickmessgerät für präzise und zerstörungsfreie Messung von Kupferschichtdicken. Die Verwendung des Thickness-Star FE erhöht die Sicherheit, dass die zu bearbeitende Kupferschichtdicke nicht unterschritten wird. Dadurch sind die Schneidplättchen keinem unnötigen Verschleiss ausgesetzt.
 

Merkmale

  • Klein wie eine Sonde

  • Robustes Leichtmetallgehäuse (IP 64) schützt vor Staub und Spritzwasser

  • Kontrastreich beleuchtete OLED Grafik-Anzeige mit Bedienungsführung

Technische Spezifikationen

  • Messverfahren:
    magnetinduktiv auf Eisen und

  • Auflösung:
    Stahl
    < 100 μm: 0.1 μm
    < 1000 μm:  1 μm

  • Genauigkeit:
    ab 1.00 mm: 0.1 mm
    < 100 μm: +/- 1 μm
    100 – 1000 μm:  +/- 1 %
    1000 – 2000 μm: +/- 3 %

  • Stromversorgung:
    2000 μm: +/- 5 %

  • Gewicht, Lieferumfang:
    1 x 1.5 V Mignon-Batterie (nicht enthalten)
    ca. 72 g
    Kalibrierinsel, Bedienungsanleitung, handlicher Koffer

Zubehör - Bestellnummern

  • 600549 | Thickness-Star FE